仪电物光 SGW® X-4显微熔点仪

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测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片–盖玻片法（热台法）测定。

主要技术参数：
熔点测量范围：室温至320℃ 
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）

	SGW®X-4	SGW®X-4A	SGW®X-4B
温度显示最小值	1℃	0.1℃	0.1℃
熔点观察方式	单目显微镜	单目显微镜	双目体视显微镜
光学放大倍数	40×	40×	40×-100×连续变倍